攻坚“芯”难题 | 摇橹船科技即将亮相2023CHTF深圳国际半导体展​!
来源: 重庆中科摇橹船信息科技有限公司    日期:2023-11-10    点击:734   属于:企业动态

      2023年11月15日-19日,2023第25届CHTF深圳国际半导体展览会开展在即。摇橹船科技将携多款应用于半导体领域的智能视觉装备亮相展会,全方位展示公司在半导体行业的多种创新应用场景,与您共同分享“光”+AI赋能半导体产业高质量发展的前沿科技。

 

2023第25届CHTF深圳国际半导体展览会

时间:2023年11月15日-11月19日
地点:深圳会展中心福田展馆3号馆
摇橹船科技展位号:3A10

 

赋能半导体产业高质量发展

多款检测装备齐发


       
       本次展会,摇橹船科技将携曲面高反光表面3D缺陷检测系统、Micro-LED晶圆检测设备、TH-SC1203D测量分析仪等多款智能视觉装备进行现场演示。
 

曲面高反光表面3D缺陷检测系统


       摇橹船科技曲面高反光表面3D缺陷检测系统主要应用于光滑高反光的反射表面的三维成像。具备检测精度高、测量速度快、节拍时间短、检测效率高、集成度高等特点。系统搭载摇橹船科技独有的算法技术与协作机器人相互协同配合,应用场景广泛,特别适用于半导体和电子行业,包括晶圆表面平整度测量、平板电脑、穿戴式镜片、显示屏、背板玻璃等缺陷检测。

 

Micro-LED晶圆检测设备

       摇橹船科技Micro-LED晶圆检测设备主要适用于Micro-LED芯片(Wafer)外观缺陷检测,具备自动识别料仓编码信息、自动上下料、智能视觉寻边定位、视觉缺陷检测、检测结果可视化多样显示等功能。采用超大视野高精度显微成像设计,成像系统可以实现4-20倍连续变倍,在长工作距离及最高放大倍率下,具备超过15μm景深,像素精度达到了0.8μm/pixel;采用了基于少量正样本和大量负样本相结合的深度神经网络检测算法,显著提高了晶圆缺陷检测的效果,其漏检率≤0.01%、过检率≤0.1%。

 

TH-SC1203D测量分析仪

 


       摇橹船科技TH-SC1203D测量分析仪基于光学干涉术原理,采用宽光谱白光作为光源,通过摇橹船科技研发团队独创的针对台阶、匀滑表面专利算法,该产品对干涉包络秒级高精度解析虚拟探针与样品相交的精确位置。分析仪具备无损非接触、定位精度高、适应工业快速测量的优点,广泛应用于nm级精度3D微结构测量领域。
 

       本次展会中,摇橹船科技销售总监詹朝杰还将在2023亚太化合物半导体发展大会上为观众进行智能视觉产品及典型应用案例的演讲,分享“芯”革命时代,摇橹船科技在高端装备制造领域的技术和经验。

 


       在中国数字经济蓬勃发展的时代背景下,摇橹船科技深度融合机器视觉与AI技术,积极布局3D机器视觉市场。在半导体领域,摇橹船科技围绕光学、算法及软件平台展开核心技术攻关,全国首创针对芯片加工设备的视觉引导对位系统,引领“芯革命”,攻克“芯难题”,以检测装备的高精度、高效能和可靠性,为Micro-LED检测提供微米级的技术支撑。

 

       在此,摇橹船科技诚邀您莅临2023第25届CHTF深圳国际半导体展览会,现场感受摇橹船科技“光”+AI的独特魅力,11月15日—19日,我们深圳见!